MetriCorr?ER探頭在使用MetriCorr ICL裝置時(shí)，需要使用ERv2探頭來(lái)確定腐蝕速率和測(cè)量電指紋

ER腐蝕速率探頭是一個(gè)精密的電子產(chǎn)品,探頭模擬涂層缺陷,通過(guò)使用簡(jiǎn)單的數(shù)學(xué)算法測(cè)量暴露的試片元件和屏蔽參考元件的電阻，得出探頭厚度。

同時(shí)記錄腐蝕速率和電指紋，可以有效分析例如干擾條件。在同一金屬表面上測(cè)量所有參數(shù)（腐蝕速率、交流/直流電位、交流/直流電流密度和擴(kuò)散電阻），確保所有相互作用的化學(xué)和電化學(xué)反應(yīng)都是分析的一部分。

ER探頭可用于分析突然及各種環(huán)境中的腐蝕，各種探頭設(shè)計(jì)和外殼材料可確保探頭適合用途，并在其整個(gè)使用壽命期間繼續(xù)向操作員提供有價(jià)值的腐蝕和CP信息。

最新版本的MetriCorr ERv2探頭在插頭中嵌入了內(nèi)存，包含數(shù)字證書(shū)。連接探頭后，MetriCorr的Slimline ICL或ICL-C將自動(dòng)讀取該值，且裝置已準(zhǔn)備好進(jìn)行測(cè)量。

數(shù)據(jù)記錄儀的數(shù)據(jù)可以通過(guò)接口導(dǎo)入計(jì)算機(jī)，也可以使用GSM/GPRS網(wǎng)絡(luò)無(wú)線(xiàn)傳輸,衛(wèi)星或光纖/LAN 提供數(shù)據(jù)通信

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