jchadwick 光學深度測微計,8600C,8600R Microset?,8600CK,8400K,光學深度測微計是一種可視化檢測顯微鏡，用于快速、準確且可重復地測量小型表面缺陷（如凹坑和劃痕）的深度。
光學深度測微計套件
8600C 一體化套件
光學深度測微計
帶 X-Y 移動平臺的實驗室支架
AM7025X Dino-Eye Edge 目鏡相機
四腳測微計底座
偏置測微計底座
亞克力 V 型塊測微計底座
重量：32 磅，尺寸：22″x 18″x 12″
10 倍目鏡
10 倍物鏡
LED 手電筒
劃痕樣品板
內(nèi)襯泡沫滾輪便攜箱
8600R Microset? 升級組件
可輕松收納于 8600C 套件箱內(nèi)側(cè)袋
50 毫升分裝槍
50 毫升復制材料（2 支）
50 支/包 50 毫升混合噴嘴
100 張/包 背襯紙
可傾斜平臺底座
8600CK 升級組件（將 8400K 套件升級為 8600C 套件，適用于現(xiàn)有客戶）
帶 X-Y 移動平臺的實驗室支架
AM7025X Dino-Eye Edge 目鏡相機
內(nèi)襯泡沫滾輪便攜箱
偏置測微計底座
8400K 光學深度測微計
光學深度測微計
三腳測微計底座
四腳測微計底座
亞克力 V 型塊測微計底座
10 倍目鏡
20 倍目鏡
10 倍物鏡
4 倍物鏡
LED 手電筒
劃痕樣品板
內(nèi)襯泡沫便攜箱
重量：7 磅，尺寸：14″x12″x6″
國家?guī)齑婢幪?(NSN)：6650 01 220 8942
GSA 合同編號：GS-24F-0043N
5500L 實驗室支架
帶 X-Y 移動平臺的測微計實驗室支架
內(nèi)襯泡沫便攜箱
重量：22 磅，尺寸：20″x 16″x 8″
國家?guī)齑婢幪?(NSN)：6640 01 625 9351
5500K 測微計實驗室支架（無 X-Y 移動平臺）
4400M Microset? 表面復制套件
50 毫升分裝槍
50 毫升復制材料（5 支）
50 毫升混合噴嘴（50 支/包）
背襯片（50 張/包）
重量：14 磅，尺寸：20″x 16″x 8″
國家?guī)齑婢幪?(NSN)：3610 01 680 3404
背襯紙（100 張/包）
可傾斜平臺底座
高腳架測微計底座
內(nèi)襯泡沫便攜箱
工作原理
光學測微計通過簡單的聚焦方法來測量深度。首先，將測量的起始位置設定為受損區(qū)域旁邊的正常表面（表面 A），通過調(diào)整焦距使其清晰對焦。一旦對焦完成，按下按鈕將數(shù)字顯示器歸零。接下來，將焦點對準受損區(qū)域的最底部（表面 B），讀取數(shù)字顯示器上的深度值即可。
關于凹坑規(guī)的問題
球形劃針、凹坑規(guī)和探針雖然便宜且便攜，但卻非常不可靠。這些工具存在誤判和結(jié)果誤導的風險。無論是游標型、模擬型還是數(shù)字型，它們都依賴于探針下落并接觸到下層表面，例如劃痕或凹坑的底部。
如果幾何形狀使探針無法到達最低點，凹坑規(guī)就會產(chǎn)生錯誤的測量結(jié)果。此外，在非平整表面上，幾乎無法使凹坑規(guī)保持靜止并處于同一角度，從而導致重復性測量變得非常困難。
此外，能夠“看到”損傷本身也是一項額外優(yōu)勢，因為這有助于發(fā)現(xiàn)其他更嚴重、隱藏的結(jié)構問題，例如裸露的基底材料或源起裂紋。
是否可修復？微不足道、可修復，還是報廢？
正確的檢測工具能顯著降低成本，避免不必要的零件更換；而錯誤的檢測工具可能帶來錯誤或誤導性的結(jié)果，從而做出代價高昂或存在安全隱患的維修決策。
準確且可重復的測量對于有信心地判斷損傷是否可修復至關重要。
在表面損傷檢測中，即使是微小的問題，也可能對維護資源造成重大影響。
光學深度測微計
光學深度測微計是一種可視化檢測顯微鏡，用于快速、準確且可重復地測量小型表面缺陷（如凹坑和劃痕）的深度。
適用于平面和曲面，也適用于多種材料，包括金屬、塑料、乳膠、復合材料、油漆、化學涂層、玻璃和其他透明材料。
帶 X-Y 平臺的實驗室支架
適用于當被測物體的表面幾何形狀不允許手持測微計搭配標準底座使用的情況。具有復雜形狀的支架就是一個典型示例。X-Y 平臺可以輕松、精確地將被測物體定位于視野范圍內(nèi)。
DINO-EYE? EDGE 目鏡相機
將目鏡替換為 Dino-Eye 相機，即可將光學測微計連接至筆記本或平板電腦，創(chuàng)建帶有詳細注釋和高分辨率圖像的電子檢測記錄。
Microset? 表面復制
Microset 復制材料為無法直接接觸的內(nèi)部表面（如螺紋孔及其他內(nèi)壁或內(nèi)徑）損傷的檢測提供了解決方案。
