美國JCHADWICK 實驗室支架 X-Y平臺 用于固定測微儀
當被測物無法放置在物鏡下方，或其表面幾何形狀不適合安裝底座時，將光學測微儀作為手持設備使用就會變得困難。
例如：
復雜的幾何結構
凹面
精細易損的表面涂層
實驗室支架無需使用底座，因此測微儀不會與被檢表面接觸。這使得在各種底座都不適用的情況下，仍能拓展應用范圍。
測微儀還可以傾斜，以便檢查花鍵和邊角部位。
X-Y平臺則可實現(xiàn)被測物在視野中的精確定位。
實驗室支架非常適合與 Dino-Eye相機配合使用，因為它能牢固固定測微儀，同時解放用戶雙手。
