Wafer bonding inspection (WBI?) equipment
晶片鍵合檢測設(shè)備
硅對紅外(IR)光具有透明性。idonus 的紅外光晶片鍵合檢測設(shè)備(WBI)從背面照亮硅襯底,并捕捉穿透襯底的光線。因此,可以檢查兩個硅襯底之間的現(xiàn)象,這些現(xiàn)象從外部是不可見的。
檢驗結(jié)果示例
紅外圖像示例:第一張圖片展示了兩塊硅晶片在融合鍵合后的情況(圖片由CSEM SA提供)??偤穸葹?.0毫米。未鍵合區(qū)域通過干涉圖案可視化。第二張圖片展示了預(yù)結(jié)構(gòu)化晶片的鍵合情況。規(guī)則的圖案由蝕刻凹槽組成。邊界處的干涉圖案也顯示出該區(qū)域的鍵合不良情況。
DIM Double Image Microscope (DIM?) E-chucks Electrostatic chucks HF Vapor Phase Etcher HF氣相蝕刻機 idonus idonus sàrl Infrared Microscope IR-M MAS MAS + DIM Mask Aligner Mask Alignment System (MAS?) MEMS MEMS器件 MEMS造設(shè)備 Mercury-vapor lamp Shadow Mask Aligner UV-EXP系列 UV-LED UV-LED exposure系統(tǒng) VPE VPE系列 Wafer bonding inspection (WBI?) equipment WBI WEDC WPWC 具有雙圖像顯微鏡的掩模對準(zhǔn)系統(tǒng) 掩模對準(zhǔn)器 掩模對準(zhǔn)系統(tǒng) 晶片鍵合檢測設(shè)備 氣相蝕刻機 汞氣燈 濕法處理晶圓夾具 濕法晶片卡盤 瑞士IDONUS 瑞士idonus sàrl 用于均勻電沉積的晶片卡盤 電子卡盤 紫外-LED曝光系統(tǒng) 紫外LED光刻曝光系統(tǒng) 紫外照明系統(tǒng) 紅外顯微鏡 紅外硅片檢測顯微鏡 蔭罩對準(zhǔn)器 蔭罩掩膜對準(zhǔn)器 靜電吸盤