Flucon E-Lub Tester 介電摩擦計(jì) 介電摩擦試驗(yàn)機(jī)

Flucon的全新介電摩擦計(jì)：一種使用四球試驗(yàn)機(jī)測量軸承潤滑劑阻抗和擊穿的試驗(yàn)臺(tái)
E-Lub測試儀在四球測試儀施加的實(shí)際操作條件下確定測試軸承和其中使用的潤滑劑的歐姆電阻和電容。
為此，使用了基于氟里昂EPSILON+實(shí)驗(yàn)室儀器開發(fā)的高精度阻抗測量。
此外，E-Lub測試儀將分析“EDM”擊穿電流和直接施加在測試軸承上的規(guī)定電負(fù)載下的介電強(qiáng)度，以便在完全可變的操作條件下（潤滑劑溫度、速度、負(fù)載）研究油和油脂的性能和放電趨勢。

主要特性
Falex四球和Hansa VKA四球測試儀測量適配器
阻抗測試模式：測量測試球軸承中的潤滑劑阻抗，確定每個(gè)操作點(diǎn)的歐姆電阻和電容
擊穿測試模式：測量運(yùn)行過程中的放電和歐姆電流，進(jìn)行全面統(tǒng)計(jì)分析（放電次數(shù)、平均功率）
軸向球軸承（標(biāo)準(zhǔn)：51208型）、可選徑向球軸承（6008型）或滾柱軸承的試驗(yàn)室
可變操作參數(shù)：通過E-Lub測試儀：潤滑劑溫度（自動(dòng)控制）、電氣負(fù)載（共模電壓）；通過FBT：運(yùn)行時(shí)間、速度、軸向載荷（均記錄在測試報(bào)告中）
自動(dòng)化和半自動(dòng)化測試
包括直觀的軟件，用于通過Windows PC進(jìn)行控制和測量，包括阻抗校準(zhǔn)器

主要元件
E-Lub測試儀由兩個(gè)主要部件組成：FBT適配器用作測試單元，其中包含推力球測試軸承以及阻抗和溫度傳感器。當(dāng)插入四球測試儀時(shí)，它取代了傳統(tǒng)的四球設(shè)置。

控制柜是對(duì)組成的補(bǔ)充。它包含阻抗計(jì)和信號(hào)發(fā)生器，以及用于精確應(yīng)用電氣負(fù)載和分析故障趨勢的附加電子設(shè)備。
流體循環(huán)器用作恒溫器，可以連接到FBT適配器，用于軸承及其潤滑劑的自動(dòng)溫度控制。
使用附帶的PC軟件，每個(gè)測試都可以在所需的溫度范圍內(nèi)自動(dòng)進(jìn)行。

背景說明：潤滑間隙中的擊穿電流
隨著電氣化的日益進(jìn)步，電動(dòng)傳動(dòng)系統(tǒng)中使用的油和潤滑脂的電氣和介電性能變得越來越重要?？鼓ポS承中的潤滑劑必須具有一定的導(dǎo)電性，以盡量減少靜電荷和由此導(dǎo)致的電氣故障，防止損壞軸承和潤滑劑。

雖然多年來已經(jīng)記錄了電驅(qū)動(dòng)中有害放電的影響，但現(xiàn)在才有可能對(duì)這種基于軸承的火花腐蝕進(jìn)行有針對(duì)性的調(diào)查，并將其比作“放電加工（EDM）效應(yīng)”。
除了摩擦，滾動(dòng)軸承和滾珠軸承中發(fā)生的電氣故障是變頻器控制的驅(qū)動(dòng)器的一種常見現(xiàn)象，會(huì)對(duì)軸瓦造成相當(dāng)大的損壞：絕緣潤滑膜引起的高電位差異引起的強(qiáng)電流突然放電會(huì)導(dǎo)致點(diǎn)蝕損壞，即形成凹坑和波紋，還會(huì)導(dǎo)致滾道中的溝槽和灰色結(jié)霜。
此外，當(dāng)暴露在擊穿電流中時(shí)，潤滑劑會(huì)過度老化：潤滑膜中的局部過熱會(huì)對(duì)油脂和油造成永久性損壞，從而嚴(yán)重影響潤滑。

一種新的動(dòng)態(tài)方法：在現(xiàn)實(shí)條件下對(duì)潤滑軸承進(jìn)行阻抗測量，具有實(shí)驗(yàn)室般的精度
使用flucon的E-Lub測試儀，現(xiàn)在可以在實(shí)際工藝條件下直接確定軸承中的潤滑劑阻抗和擊穿趨勢。EPSILON+介電測量儀的成熟技術(shù)用于高精度測量。

直觀的軟件，用于指導(dǎo)和自動(dòng)化測試
由于Windows PC附帶的軟件，潤滑劑的阻抗測試和故障測試都是自動(dòng)進(jìn)行的。在這里，有各種標(biāo)準(zhǔn)化和自定義測試模式可供選擇。

應(yīng)用領(lǐng)域
使用E-Lub測試儀生成的特征數(shù)據(jù)可用于潤滑劑開發(fā)以及以下示例性應(yīng)用，其中放電起著重要作用：

變速電動(dòng)機(jī)
電子移動(dòng)
齒輪技術(shù)
鐵路技術(shù)
風(fēng)力渦輪機(jī)

技術(shù)參數(shù)：

Technical specifications – E-Lub Tester