美國Charles,超紡錘階段,7058,用于對(duì)晶體進(jìn)行測(cè)量和檢查

美國Charles,超紡錘階段,7058,超紡錘體階段允許對(duì)晶體進(jìn)行測(cè)量和檢查

超紡錘體階段
超紡錘體階段允許對(duì)晶體進(jìn)行測(cè)量和檢查。

超級(jí)主軸臺(tái)可完成多種有用的測(cè)量:檢查安裝在測(cè)角儀頭上的晶體的整體形狀;測(cè)量晶體形狀以校正 x 射線吸收;測(cè)量先前定向晶體相對(duì)于晶胞邊緣的晶體形態(tài)。

主軸臺(tái)由水平旋轉(zhuǎn)軸組成,該軸經(jīng)過校準(zhǔn),配有游標(biāo)尺,可鎖定在所需的設(shè)置中。主軸可接受任何帶有標(biāo)準(zhǔn) IUC 螺紋的測(cè)角儀頭。除了測(cè)角儀頭提供的正交平移外,還可以垂直于和平行于臺(tái)軸進(jìn)行高達(dá) +- 1/8” 的平移。

主軸臺(tái)可以安裝在巖相顯微鏡的旋轉(zhuǎn)臺(tái)上,也可以放在雙目顯微鏡下。


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