奧地利Alicona Imaging Profiler光學(xué)輪廓儀 基于輪廓和面積的粗糙度測(cè)量

Profiler用于粗糙度測(cè)量的光學(xué)輪廓儀

 

基于輪廓和面積的粗糙度測(cè)量的光學(xué)輪廓儀

Profiler是一個(gè)手持式3D粗糙度測(cè)量系統(tǒng)，用于高分辨率測(cè)量表面粗糙度。用戶只用一個(gè)系統(tǒng)就可以測(cè)量平面和曲面部件的粗糙度。測(cè)量是基于輪廓（ISO 4287）和基于面積（ISO 25178）進(jìn)行的。

輕巧的Profiler由一個(gè)三維測(cè)量傳感器和一個(gè)堅(jiān)固的、同時(shí)也是方便的框架組成。符合人體工程學(xué)的設(shè)計(jì)結(jié)合了使用的便利性和所需的機(jī)械剛性。在最短的三秒鐘內(nèi)就可以實(shí)現(xiàn)可追溯和可重復(fù)的測(cè)量。

技術(shù)規(guī)格

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)非接觸，光學(xué)，立體三維，基于Focus Variation 自動(dòng)變焦技術(shù)
定位量 (Z)25 mm (自動(dòng))

分辨率和技術(shù)參數(shù)

物鏡放大倍數(shù)x10x20x50
工作距離mm17.51610.1
橫向測(cè)量范圍(X,Y)mm210.4
(X x Y)mm2410.16
垂直分辨率nm1005020
最小可測(cè)量表面輪廓粗糙度 (Ra)μm0.30.240.18
最小可測(cè)量表面面粗糙度 (Sa)μm0.150.120.9

 


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